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Publicación | |
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Título: | THEORETICAL CHARACTERISATION OF POINT DEFECTS ON A MOS2 MONOLAYER BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. |
Título de la revista: | NANOTECHNOLOGY |
Tipo de aportación: | ARTICULO |
Número de volumen: | 27 |
Páginas de la publicación: | 105702 - |
Año de la publicación: | 2016 |
Enlace a la publicación: | http://iopscience.iop.org/article/10.1088/0957-4484/27/10/105702/meta |
Autores: |
BLANCA BIEL RUIZ YANNICK DAPPE |